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        J-RAS離子遷移試驗裝置

        簡要描述:J-RAS離子遷移試驗裝置
        絕緣抵抗測定器
        型號:ECM-100
        用途:印刷電路板、焊錫、樹脂、導電性粘合劑、絕緣材料等的電化學遷移(離子遷移)評價。

        • 產品型號:ECM-100
        • 廠商性質:經銷商
        • 更新時間:2023-04-20
        • 訪  問  量:213
        詳細介紹
        品牌J-RAS應用領域化工,建材,電子,汽車,電氣

        J-RAS離子遷移試驗裝置

        絕緣抵抗測定器

        型號:ECM-100

         

        離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE,經過長時間的測試(11000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生(ION MIGRATION,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。(ION MIGRATION TESTING) 適用規格:JPCA-ET01-2001


        J-RAS離子遷移試驗裝置 

        特點:

        ①簡單便利

        由于采用了高側計測,削減了對樣品的焊接工時。

        通過簡單操作的軟件,可以進行直觀的操作。

        在記錄和報告過程中配備了方便的報告功能。

        試驗中測試儀可以單獨工作,可以切斷電腦的電源。

        ②高機能

        通過對每個頻道單獨配備的外加測量電路,實現16ms的測量間隔。

        泄漏接觸現象的檢測能力高,可靠性試驗的“質量"提高。

        一臺電腦可增設多達400個通道

        每個通道有不同的測試電壓。

        ③高信賴性

        通過自我診斷功能防止異常測量。

        易于拆卸的單元結構,易于維護。

         

        用途

        印刷電路板、焊錫、樹脂、導電性粘合劑、絕緣材料等的電化學遷移(離子遷移)評價。


         


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